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TableXAFS是一種實驗室級小型化X射線吸收精細結構分析設備,能夠在常規實驗室內完成材料的局域原子結構表征,其核心特點是擺脫對同步輻射光源的依賴,通過緊湊設計和高性能組件集成,實現與大型同步輻射裝...
CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率,能夠精確測量微弱的光譜信號,揭示物質更細微的結構和性質。其次,該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍,可以覆蓋從近紫外到真空紫外區域的多個波長范圍,滿足各種研究需求...
X射線吸收精細結構(XAFS)譜儀同步輻射X射線吸收近邊結構主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。
擴展x射線吸收精細結構譜儀主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。
X射線精細結構譜是一種通過分析材料對X射線的吸收邊附近及高能區的精細振蕩,揭示目標原子局域結構與化學環境的高精度表征技術。其核心分為??X射線近邊吸收譜??和??擴展邊精細結構。
雙PMT探測器是一種使用兩個光電倍增管作為探測元件的裝置。PMT是一種真空電子器件,具有高靈敏度和高增益的特點。當光陰極面受到光照后,由于光電效應會釋放出光電子,這些光電子在倍增級中實現連續的倍增,從...
真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結構,入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上,可以單色模式和光譜模式切用 。
真空紫外分光光度計是一種專用于真空紫外波段的光譜分析儀器,通過高真空或惰性氣體環境(避免氧氣、水蒸氣吸收干擾)實現深紫外光的精準測量。
采用像差校正超環面光柵進行衍射分光,可以在較寬光譜范圍內保證高的光譜分辨和光通量。 通過選配不同的光柵型號,可以實現10-300nm范圍的光譜覆蓋。
光譜儀器及配件
分析測試儀器
400-8877-750
?分辨平場光譜儀,采?全息凹球?變線距光柵進?分光,具有平場特性,便于使??陣CCD記錄光譜。光柵?作在掠?射模式下,衍射效率?,同時通過選?不同的光柵型號,可以實現波?范圍1~30nm的全覆蓋。
平場光譜儀,采用全息凹球面變線距光柵進行分光,具有平場特性,便于使用面陣CCD記錄光譜。光柵工作在掠入射模式下,衍射效率高,同時通過選用不同的光柵型號,可以實現波長范圍0.6~200nm的全覆蓋。
RapidXAFS主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。
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