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TableXAFS是一種基于同步輻射的先進(jìn)表征技術(shù)。當(dāng)X射線光子能量接近并超過(guò)材料中特定原子內(nèi)層電子的電離閾值時(shí)，其吸收系數(shù)會(huì)出現(xiàn)閾值之上的精細(xì)振蕩結(jié)構(gòu)。該振蕩來(lái)源于出射光電子波與周?chē)徑颖成⑸潆娮硬ㄖg的干涉效應(yīng)，其結(jié)構(gòu)蘊(yùn)含著吸收原子周?chē)木植吭咏Y(jié)構(gòu)信息，包括配位原子種類(lèi)、距離、配位數(shù)及無(wú)序度等。

CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率，能夠精確測(cè)量微弱的光譜信號(hào)，揭示物質(zhì)更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。其次，該儀器具備較寬的波長(zhǎng)覆蓋范圍，可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個(gè)波長(zhǎng)范圍，滿足各種研究需求。

真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結(jié)構(gòu)，入射狹縫和CCD探測(cè)器位于羅蘭圓上，可以單色模式和光譜模式切用 。

x射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀，原位X射線吸收光譜是一種利用同步輻射光源或高性能實(shí)驗(yàn)室X射線源，測(cè)量并分析材料對(duì)X射線的吸收系數(shù)隨光子能量變化的精細(xì)結(jié)構(gòu)的大型實(shí)驗(yàn)裝置。通過(guò)在反應(yīng)過(guò)程中實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)吸收邊的近邊（XANES）和擴(kuò)展邊（EXAFS）信號(hào)，揭示材料在真實(shí)環(huán)境中的結(jié)構(gòu)演化規(guī)律，為理解構(gòu)效關(guān)系、優(yōu)化材料設(shè)計(jì)提供直接依據(jù)。

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測(cè)試主要測(cè)量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長(zhǎng)。