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TableXAFS是一種基于同步輻射的先進(jìn)表征技術(shù)。當(dāng)X射線光子能量接近并超過材料中特定原子內(nèi)層電子的電離閾值時(shí)，其吸收系數(shù)會(huì)出現(xiàn)閾值之上的精細(xì)振蕩結(jié)構(gòu)。該振蕩來源于出射光電子波與周圍鄰近原子背散射電...

CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率，能夠精確測量微弱的光譜信號，揭示物質(zhì)更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。其次，該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍，可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個(gè)波長范圍，滿足各種研究需求...

真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結(jié)構(gòu)，入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上，可以單色模式和光譜模式切用 。

高分辨平場光譜儀，采?全息凹球?變線距光柵進(jìn)?分光，具有平場特性，便于使??陣CCD記錄光譜。光柵?作在掠?射模式下，衍射效率?，同時(shí)通過選?不同的光柵型號，可以實(shí)現(xiàn)波?范圍1~30nm的全覆蓋。

極紫外光譜儀，采用全息凹球面變線距光柵進(jìn)行分光，具有平場特性，便于使用面陣CCD記錄光譜。光柵工作在掠入射模式下，衍射效率高，同時(shí)通過選用不同的光柵型號，可以實(shí)現(xiàn)波長范圍0.6~200nm的全覆蓋。

x射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀，原位X射線吸收光譜是一種利用同步輻射光源或高性能實(shí)驗(yàn)室X射線源，測量并分析材料對X射線的吸收系數(shù)隨光子能量變化的精細(xì)結(jié)構(gòu)的大型實(shí)驗(yàn)裝置。通過在反應(yīng)過程中實(shí)時(shí)監(jiān)測吸收...

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

X射線吸收譜儀是一種利用同步輻射或?qū)嶒?yàn)室X射線源，通過測量材料對X射線的吸收特性來探測其原子尺度局域結(jié)構(gòu)及電子態(tài)的分析儀器。其核心技術(shù)包括X射線近邊吸收譜和擴(kuò)展邊精細(xì)結(jié)構(gòu)，可精準(zhǔn)解析目標(biāo)元素的化學(xué)價(jià)態(tài)...

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

臺(tái)式X射線吸收譜儀 是一種采用常規(guī)實(shí)驗(yàn)室X射線光源（而非同步輻射），可在普通實(shí)驗(yàn)室內(nèi)完成X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)測量的桌面型分析儀器。它的目標(biāo)是在非同步輻射光源的條件下，實(shí)現(xiàn)對材料局部原子結(jié)構(gòu)的快速、便捷表...