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Product Center擴展x射線吸收精細結構譜儀主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。
X射線精細結構譜是一種通過分析材料對X射線的吸收邊附近及高能區的精細振蕩,揭示目標原子局域結構與化學環境的高精度表征技術。其核心分為??X射線近邊吸收譜??和??擴展邊精細結構。
臺式XAFS(x射線吸收精細結構譜儀)??是一種實驗室級小型化設備,能夠在常規實驗室內實現X射線吸收精細結構(XAFS)的測量與分析。其核心目標是通過緊湊設計和高集成度技術,將傳統依賴同步輻射光源的XAFS實驗轉移到桌面環境中,突破大型設施的機時限制和高昂成本。
衍射光柵是一種由周期性排列的狹縫或凹槽構成的光學器件,基于??多光束干涉與衍射原理??,將入射光按波長精確分離,形成清晰的光譜。
雙PMT探測器是一種使用兩個光電倍增管作為探測元件的裝置。PMT是一種真空電子器件,具有高靈敏度和高增益的特點。當光陰極面受到光照后,由于光電效應會釋放出光電子,這些光電子在倍增級中實現連續的倍增,從而實現電子的放大,并最終通過陽極輸出電流信號。